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        mos管怎樣檢測(cè)好壞_mos管怎樣檢測(cè)好壞清風(fēng)電子視頻

        振邦微科技 2023-04-17 00:50:07 芯片常識(shí) 166 ℃ 1 評(píng)論

        mos管怎么測(cè)試好壞

        用萬(wàn)能表檢測(cè)mos管好壞的方法:

        將萬(wàn)用表兩個(gè)表筆分別搭接在其他兩個(gè)極:給B極與任意一個(gè)極接一個(gè)10千歐姆電阻,電阻先不要接上 ,把表筆分別放在兩級(jí),電阻這時(shí)再接觸,指針擺動(dòng)越大證明該管拆兆敗子放大系數(shù)就越大 ,也就是說(shuō)該管子就越好,反之越差 。

        接電阻的那一端為C極;若是紅表筆為P管,黑表筆旅顫為N管。凡是不符合以上測(cè)量數(shù)據(jù)的三極管都是壞的。

        萬(wàn)用表的相關(guān)要求規(guī)定:

        1 、指針表讀取精度較差 ,但指針擺動(dòng)的過(guò)程比較直觀 ,其擺動(dòng)速度幅度有時(shí)也能比較客觀地反映了被測(cè)量的大?。ū热鐪y(cè)電視機(jī)數(shù)據(jù)總線(SDL)在傳送數(shù)據(jù)時(shí)的輕微抖動(dòng));數(shù)字表讀數(shù)直觀,但數(shù)字變化的過(guò)程看起來(lái)很雜亂,不太容易觀猜絕看 。

        2、數(shù)字萬(wàn)用表的準(zhǔn)確度是測(cè)量結(jié)果中系統(tǒng)誤差與隨機(jī)誤差的綜合。它表示測(cè)量值與真值的一致程度 ,也反映測(cè)量誤差的大小。一般講準(zhǔn)確度愈高,測(cè)量誤差就愈小,反之亦然 。

        3、指針表內(nèi)一般有兩塊電池 ,一塊低電壓的1.5V,一塊是高電壓的9V或15V,其黑表筆相對(duì)紅表筆來(lái)說(shuō)是正端 。數(shù)字表則常用一塊6V或9V的電池。在電阻檔,指針表的表筆輸出電流相對(duì)數(shù)字表來(lái)說(shuō)要大很多,用R×1Ω檔可以使揚(yáng)聲器發(fā)出響亮的“噠”聲 ,用R×10kΩ檔甚至可以點(diǎn)亮發(fā)光二極管。

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        MOS管的好壞如何判斷

        用萬(wàn)用表R×1k檔或R×10k檔,測(cè)量場(chǎng)效應(yīng)管任意兩腳之間的正 、反向電阻值 。正常時(shí),除漏極與源極的正向電阻值較小外 ,其余各引腳之間(G與D、G與S)的正、反向電阻值均應(yīng)為無(wú)窮大。若測(cè)得某兩極之間的電阻值接昌晌近0Ω,則說(shuō)明該管已擊穿損壞。

        另外,還可以用觸發(fā)柵極(P溝橋好道場(chǎng)效應(yīng)晶敏迅鉛體管用紅表筆觸發(fā) ,N溝道場(chǎng)效應(yīng)管用黑表筆觸發(fā))的方法來(lái)判斷場(chǎng)應(yīng)管是否損壞 。若觸發(fā)有效(觸發(fā)柵極G后 ,D 、S極之間的正 、反向電阻均變?yōu)?),則可確定該管性能良好。

        MOS管用數(shù)字萬(wàn)用表怎么測(cè)其好壞及引腳?

        用數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)量MOS管好壞及引腳的方法:以N溝道MOS場(chǎng)效應(yīng)管為例。

        一、先確定MOS管的引腳:

        1、先對(duì)MOS管放電,將三個(gè)腳短路即可;

        1 、首先找出場(chǎng)效應(yīng)管的D極(漏極) 。對(duì)于TO-252、TO-220這類封裝的帶有散熱片的場(chǎng)效應(yīng)管 ,它們的散熱片在內(nèi)部是與管子的D極相連的,故我們可用數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔測(cè)量管子的各個(gè)引腳,哪個(gè)引腳與散熱片相連 ,哪個(gè)引腳就是D極。

        2、找到D極后,將萬(wàn)用表調(diào)至二極管檔;

        3 、用黑表筆接觸管子的D極,用紅表筆分別接觸管子的另外兩個(gè)引腳。若接觸到某個(gè)引腳時(shí) ,萬(wàn)用表顯示的讀數(shù)為一個(gè)硅二極管的正向壓降,那么該引腳即為S極(源極),剩下的那個(gè)引腳即為G極(柵極) 。

        二、MOS管好壞的測(cè)量:

        1、當(dāng)把紅表筆放在S極上 ,黑表筆放在D極上,可以測(cè)出來(lái)這個(gè)導(dǎo)通壓降,一般在0.5V左右為正常;

        2 、G腳測(cè)量 ,需要先對(duì)G極充下電 ,把紅表筆放在G極,黑表筆放在S極;

        3、再次把紅表檔行純筆放在S極上,黑表筆放在D極上 ,可以測(cè)出來(lái)這個(gè)放大壓降,一般在0.3V左右為正常;

        擴(kuò)展資料

        MOS管的主要參數(shù)

        1、開啟電壓VT

        開啟電壓(又稱閾值電壓):使得源極S和漏極D之間開始形成導(dǎo)電溝道所需的柵極電壓;

        標(biāo)準(zhǔn)的N溝道MOS管,VT約為3~6V;通過(guò)工藝上的改進(jìn) ,可以使MOS管的VT值降到2~3V。

        2 、直流輸入電阻RAH

        即在柵源極之間加的電壓與柵極電流之比

        這一特性有時(shí)以流過(guò)柵極的柵流表示

        MOS管的RAH 可以很容易地超過(guò)1010Ω。

        3.、漏源擊穿電壓BVDS

        在VAH =0(增強(qiáng)型)的條件下,在增加漏源電壓過(guò)程中使ID開始劇增時(shí)的VDS稱為漏源擊穿電壓BVDS

        ID劇增的原因有下列兩個(gè)方面:

        (1)漏極附近耗盡層的雪崩擊穿;

        (2)漏源極間的穿通擊穿;

        有些MOS管中,其溝道長(zhǎng)度較短 ,不斷增加VDS會(huì)使漏區(qū)的耗盡層一直擴(kuò)展到源區(qū),使溝道長(zhǎng)度為零,即產(chǎn)生漏源間的穿通 ,穿通后,源區(qū)中的多數(shù)載流子,將直接受耗盡層電場(chǎng)的吸引 ,到達(dá)漏區(qū) ,產(chǎn)生大的ID 。

        4、柵源擊穿電壓BVAH

        在增加?xùn)旁措妷哼^(guò)程中,使柵極電流IG由零開始劇增時(shí)的VAH ,稱為柵源擊穿電壓BVAH 。

        5 、低頻跨導(dǎo)gm

        在VDS為某一固定數(shù)值的條件下 ,漏極電流的微變量和引起這個(gè)變化的柵源電壓微變量之比稱為跨導(dǎo);

        gm反映了柵源電行咐壓對(duì)漏極電流的控制能力,是表征MOS管放大能力的一個(gè)重要參數(shù)

        一般在十分之幾至幾mA/V的范圍內(nèi)

        6 、導(dǎo)通電阻RON

        導(dǎo)通電阻RON說(shuō)明帶姿了VDS對(duì)ID的影響,是漏極特性某一點(diǎn)切線的斜率的倒數(shù)

        在飽和區(qū) ,ID幾乎不隨VDS改變,RON的數(shù)值很大,一般在幾十千歐到幾百千歐之間

        由于在數(shù)字電路中 ,MOS管導(dǎo)通時(shí)經(jīng)常工作在VDS=0的狀態(tài)下,所以這時(shí)的導(dǎo)通電阻RON可用原點(diǎn)的RON來(lái)近似

        ·對(duì)一般的MOS管而言,RON的數(shù)值在幾百歐以內(nèi)

        7、極間電容

        三個(gè)電極之間都存在著極間電容:柵源電容CAH 、柵漏電容CGD和漏源電容CDS

        CAH 和CGD約為1~3pF ,CDS約在0.1~1pF之間

        8 、低頻噪聲系數(shù)NF

        噪聲是由管子內(nèi)部載流子運(yùn)動(dòng)的不規(guī)則性所引起的?!び捎谒拇嬖?,就使一個(gè)放大器即便在沒有信號(hào)輸人時(shí),在輸出端也出現(xiàn)不規(guī)則的電壓或電流變化

        噪聲性能的大小通常用噪聲系數(shù)NF來(lái)表示 ,它的單位為分貝(dB)。這個(gè)數(shù)值越小 ,代表管子所產(chǎn)生的噪聲越小

        低頻噪聲系數(shù)是在低頻范圍內(nèi)測(cè)出的噪聲系數(shù)

        場(chǎng)效應(yīng)管的噪聲系數(shù)約為幾個(gè)分貝,它比雙極性三極管的要小

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